一、頻繁的電容器損壞。

二、在電容器組運(yùn)行和投切過(guò)程中，電容器外的熔斷器經(jīng)常熔斷。

三、電容器組經(jīng)常投運(yùn)，利用率低。

為了提高電網(wǎng)的重慶無(wú)功補(bǔ)償水平，有必要對(duì)設(shè)備進(jìn)行無(wú)功補(bǔ)償。鑒于上述情況，我們分析可能的原因如下：

1、電容器損壞的主要原因是在電壓等級(jí)的選擇中沒(méi)有考慮諧波背景的影響，導(dǎo)致所選電壓等級(jí)較低，在長(zhǎng)期運(yùn)行中容易損壞電容器。

2、電容器外熔斷器常熔斷，主要是合閘涌流對(duì)熔斷器的沖擊或熔斷器額定電流選擇過(guò)小，或不同電抗率組別的電容器組投切順序不當(dāng)造成的。